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晶体管IV曲线图示仪特点:
多功能:可作源和负载,又能测;
高效率:满足多种测试需求;
可编程控制:高精度可调,灵活控制;
IV扫描:快速、直观显示,一步操作。
应用领域:
分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件;
能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等
有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等
纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等
测试功能:
微电路 |
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1 |
晶圆 |
L-IV测试,输入曲线、输出曲线 |
2 |
芯片 |
L-IV测试,输入曲线、输出曲线 |
器件 |
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1 |
二极管 |
正向导通电压、正向电流、反向击穿电压、反向漏电流 |
2 |
三极管 |
L-IV测试,输入曲线、输出曲线 |
3 |
MOSFET |
L-IV测试,输入曲线、输出曲线 |
4 |
IGBT |
L-IV测试,输出曲线、转移曲线 |
5 |
晶闸管 |
正向电压电流曲线、反向电压电流曲线、触发特性 |
电池 |
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1 |
锂电池 |
IV测试,充放电扫描曲线 |
2 |
光伏电池 |
IV测试,放电扫描曲线 |
材料 |
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1 |
石墨烯 |
IV测试、输入曲线、输出曲线 |
2 |
纳米线 |
IV测试、输入曲线、输出曲线 |
S系列源表特点:
5寸800*480触摸显示屏,全图形化操作
内置强大的功能软件,加速用户完成测试,如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.1%,分辨率5位半
四象限工作(源和肼),源及测量范围:高至300V,低至10pA
丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储,一键导出测试报告
支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网
应用优势:
1、 多功能测量需求下的广泛的适应性,电压高300V,电流低至100pA;
2、 实现“源”的输出和“表”的测量同步进行,提高测试效率。
3、 具备对测试器件的保护功能,可进行自我限制,避免因过充而造成的对测试器件的损害;
精确的电压电流限制功能,为器件提供完善的保护功能,避免器件损坏。
4、 触屏图形化操作,使用简单。开放式平台,可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
国产优势
1、自主研发,符合大环境下国内技术自给的需求;
2、性价比高;
3、可及时与客户沟通,为客户提供高性价比系统解决方案。及时指导客户编程,加速测试系统开发。
晶体管IV曲线图示仪 联系我们:
单位名称:武汉普赛斯仪表有限公司
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